iF DESIGN AWARD für Hochschule Osnabrück

(JM) Die Hochschule Osnabrück ist für ein gemeinsames Projekt mit dem Technologiekonzern Zeiss mit dem renommierten iF DESIGN AWARD ausgezeichnet worden. Prämiert wurde das Röntgensystem „ZEISS OMNIA GTC“ in der Kategorie Industrie, Werkzeuge und Maschinen. Es dient der zerstörungsfreien Prüfung großer Gussteile, wie sie beispielsweise in der Automobilindustrie eingesetzt werden. Entwickelt wurde das Design gemeinsam mit der Hochschule Osnabrück. Besonderes Augenmerk lag dabei auf einer einfachen und sicheren Bedienung. Nach Angaben der Hochschule trägt das System dazu bei, Produktionsprozesse effizienter zu gestalten und Materialfehler frühzeitig zu erkennen.